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扫描电子显微镜（SEM）利用聚焦电子束扫描样品表面，通过二次电子和背散射电子信号成像，实现纳米级分辨率三维形貌观察。它具备景深长、放大倍数连续可调（10~50万倍）的特点，广泛应用于材料科学、生物学和半导体失效分析等领域。
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